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光电子器件尝贰顿失效分析：随着LED应用的飞速发展，其失效问题也随之表现的尤为突出，特别是LED随机性不点灯或性不点灯，以及烧灯等，是困扰产物可靠性寿命的关键问题。广电计量通过对LED内部的微观分析，确认其结构上的失效特征，可以改进设计、制造、工艺及应用上的潜在或已存在的失效风险，提高产物的可靠性及寿命。

光电器件 电磁继电器电性能测试：继电器是一种自动控制开关，当其输入端的物理量达到某一量值时，其输出端的状态发生阶跃式变化。继电器广泛应用于遥控、遥测、通讯、自动控制、机电一体化及电力电子设备中，是最重要的控制元件之一。广电计量提供电磁继电器电性能测试服务，为实际使用发生失效的继电器进行宏观及微观的分析，确定其失效模式及其失效的机理。

PCB PCBA金相切片试验 光电器件测试：金相切片是电子行业中常用的产物内部质量评价方法。广电计量拥有完整的切片分析测试设备，经验丰富的切片分析人才，能够高效准确的提供切片服务。

AD/DA转换器电性能测试 光电器件:AD/DA转换器是将数字量转换为模拟量的电路，主要用于数据传输系统、自动测试设备、医疗信息处理、电视信号的数字化、图像信号的处理和识别、数字通信和语音信息处理等。对AD/DA转换器进行有效的检测，是提高公司产物质量的保证。越复杂的生产场景对AD/DA转换器芯片的可靠性越高，电性能测试是检验AD/D啊A芯片功能性能可靠性的主要手段。

光电器件叁端稳压器电气性能测试：三端稳压器主要包括两种，一种输出固定电压，称为固定输出三端稳压器；另一种输出可调电压，称为可调输出三端稳压器。两种稳压器基本原理相同，均采用串联型稳压电路。在线性集成稳压器中，由于三端稳压器只有三个引出端子，具有外接元件少、使用方便、性能稳定、价格低廉等优点，因而得到广泛应用。

5骋通信 IC芯片开封试验：广电计量IC芯片开封试验主要是切开剖面观察金丝情况，及金球情况，表面铝线是否受伤，芯片是否有裂缝，光刻是否不良,是否中测，芯片名是否与布线图芯片名相符。

功率器件失效分析 电力电子器件：功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外较为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界的专家团队及先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客户提供完整的失效根因分析服务。

第三代半导体器件全参数测试 电力电子器件:广电计量专家团队深入解读IGBT测试相关标准，建立功率模块可靠性验证技术能力，可以为功率半导体产业上下游公司提供具有专业性的IGBT及第三代半导体器件全参数测试验证报告。